FISCHERSCOPE X-RAY XDAL237功能特點(diǎn)：

◆配備了半導(dǎo)體探測器，由于有更好的信噪比，能更精確地進(jìn)行元素分析和薄鍍層測量

◆使用微聚焦管可以測量較小的測量點(diǎn)，但因?yàn)槠湫盘?hào)量較低，不適合測量十分細(xì)小的結(jié)構(gòu)

◆底部C型開槽的大容量測量艙

◆有彈出功能的快速、可編程XY平臺(tái)

典型應(yīng)用領(lǐng)域：

◆鍍層和合金的材料分析(還適用于薄鍍層和低含量成分)

◆來料檢驗(yàn)，生產(chǎn)監(jiān)控

◆研究和開發(fā)

◆電子工業(yè)

◆接插件和觸點(diǎn)

◆黃金、珠寶和鐘表工業(yè)

◆可以測量數(shù)納米薄的鍍層，如印刷線路板和電子元器件上的Au和Pd鍍層

◆痕量元素分析

◆在有“高可靠性"要求的應(yīng)用中確定鉛(Pb)含量

◆硬質(zhì)鍍層分析